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产品简介
1. 名称：中空玻璃露点仪（半导体式）
2. 型号：IMLD-B
3. 执行标准：GB/T11944-2012《中空玻璃》关于露点测定部分
4. 介绍：IMLD-B中空玻璃露点仪是根据标准GB/T 11944—2012规定的技术条件制造的一种仪器。
5. 用于检测中空玻璃试样内表面在标准规定条件和方法情况下结露。
6. 应用领域：大专院校、科研单位、中空玻璃生产、使用单位以及相关检测单位。
技术参数：
1. 测量探头工作温度：-60℃～-40℃
2. 测量探头直径：50mm
3. 数显温度计测量范围：-65℃~ 50℃（注：测量范围可调）
4. 温度分辨率： 1℃
5. 试件尺寸：510mm×360mm
6. 控制箱尺寸：470mm×550mm×700mm
7. 试验环境：温度：23℃±2℃ 相对湿度：30%~75%RH
产品特点：
1. 采用半导体三级制冷的技术，制冷的温度可以设定和控制，制冷速度快，操作十分方便，不仅可以在试验室内使用，而且可在现场进行检测，不需要使用容易挥发的干冰，使用方便且使用成本低廉。
2. 探头和制冷机组可实现完全分离，方便实用且不受试件方向限制。
3. 集成了电源、冷却、循环和控制系统，实现全过程自动控制，机箱和探头由软管连接，检测时探头的工作面与试件接触，探头的工作面可以为任意方向。
4. 采用pt100温度探头，测量精度高，数据准确。
5.温度值控制采用微机温控PID调节技术，控温精度高，温度稳定性高。
